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日本filmetrics自動測繪膜厚測量系統(tǒng)F50 測厚儀
更新日期：2024-05-15
訪問量：1920
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址：
簡要描述：
日本filmetrics自動測繪膜厚測量系統(tǒng)F50F50自動測繪膜厚測量系統(tǒng)是將基于光學(xué)干涉原理的膜厚測量功能與自動高速載物臺相結(jié)合的系統(tǒng)。
日本filmetrics自動測繪膜厚測量系統(tǒng)F50
F50自動測繪膜厚測量系統(tǒng)是將基于光學(xué)干涉原理的膜厚測量功能與自動高速載物臺相結(jié)合的系統(tǒng)。
以過去無法想象的速度測量規(guī)定點的膜厚和折射率。它支持從2英寸到450毫米的硅基板，并且可以規(guī)定任何測量點。
還有與大型玻璃基板兼容的可選產(chǎn)品。
主要特點
結(jié)合基于光學(xué)干涉原理的膜厚測量功能和自動高速載物臺的系統(tǒng)
以過去無法想象的速度測量規(guī)定點的膜厚和折射率
兼容2英寸至450毫米的硅基板，可規(guī)定任何測量點
主要應(yīng)用
| 半導(dǎo)體 | 抗蝕劑、氧化膜、氮化膜、非晶/多晶硅、拋光硅片、化合物半導(dǎo)體襯底、?T襯底等。 |
|---|---|
| 平板 | 單元間隙、聚酰亞胺、ITO、AR膜、 各種光學(xué)膜等。 |
| 薄膜太陽能電池 | CdTe、CIGS、非晶硅等 |
| 砷化鋁鎵（AlGaAs）、磷化鎵（GaP）等 |
產(chǎn)品陣容
| 模型 | F50-UV | F50 | F50-近紅外 | F50-EXR | F50-UVX | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 測量波長范圍 | 190-1100nm | 380-1050nm | 950-1700nm | 380-1700nm | 190-1700nm | |
| 膜厚測量范圍 | 5nm-40μm | 20nm-70μm | 100nm-250μm | 20nm-250μm | 5nm-250μm | |
| 準確性* | ± 0.2% 薄膜厚度 | ± 0.4% 薄膜厚度 | ± 0.2% 薄膜厚度 | |||
| 1納米 | 2納米 | 3納米 | 2納米 | 1納米 | ||
| 測量光斑直徑 | 兼容標準1.5mm 0.5mm、0.2mm、0.1mm（可選） | |||||
| 光源 | 氘· 鹵素 | 鹵素 | 氘· 鹵素 | |||
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